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IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型

IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型

皓天HT-HAS-150以非飽和高壓環(huán)境為核心,滿足IC封裝等高精度測試需求,結(jié)合軍工級安全設(shè)計,為電子行業(yè)提供高效可靠的老化驗證方案?

  • 產(chǎn)品型號:?HT-HAS-150
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2025-04-11
  • 訪  問  量:538
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產(chǎn)品詳情
品牌廣皓天?測試模式溫濕度循環(huán)測試
行業(yè)?半導(dǎo)體/電子內(nèi)膽?304不銹鋼或鎳基合金
壓力范圍0.2~0.5MPa溫度均勻度≤±2℃
溫度范圍110℃~150℃濕度70%~100RH
溫濕度均勻分布偏差≤±1℃/±3%RH容積150升

IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型


技術(shù)優(yōu)勢?

?精準(zhǔn)環(huán)境模擬?

采用?非飽和蒸汽加濕技術(shù)?,避免樣品表面凝露干擾測試結(jié)果?

配備?干濕球雙傳感器?與PID智能算法,實現(xiàn)溫濕度精準(zhǔn)調(diào)控?。


?高強(qiáng)度結(jié)構(gòu)設(shè)計?

?內(nèi)膽材質(zhì)?:SUS316不銹鋼圓弧內(nèi)膽,防結(jié)露設(shè)計,耐受長期高壓蒸汽腐蝕?。

?隔熱系統(tǒng)?:陶瓷纖維隔熱層+冷軋鋼板外殼,能耗降低30%?。

IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型



IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型


?安全防護(hù)系統(tǒng)?

?雙重泄壓保護(hù)?:機(jī)械安全閥+電子超壓報警,壓力超限自動切斷電源?。

?多重故障防護(hù)?:斷水保護(hù)、空焚保護(hù)、漏電保護(hù),符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn)?。


?三、應(yīng)用場景?

?IC封裝測試?:快速暴露芯片分層、焊點腐蝕、金屬引線失效等問題(測試周期縮短至48小時)?。

?半導(dǎo)體器件可靠性驗證?:評估BGA封裝、磁性材料在濕熱高壓下的壽命衰減特性?。

?軍工與汽車電子?:ECU控制器、傳感器密封性及耐候性測試?。



?四、增值服務(wù)?

?定制化方案?:支持樣品架尺寸、信號施加端子數(shù)量定制(標(biāo)準(zhǔn)配置8條端子)?。

?快速交付?:15天交付周期(含安裝調(diào)試與技術(shù)培訓(xùn))?。

?售后服務(wù)?:整機(jī)質(zhì)保3年,核心部件(傳感器、壓縮機(jī))終身維護(hù)?。


?五、測試效果與價值?

?加速老化效率?:模擬10年自然老化效果僅需240小時,降低研發(fā)周期與成本?。

?數(shù)據(jù)可靠性?:支持USB導(dǎo)出溫濕度曲線數(shù)據(jù),兼容RS-485通訊接口?。


皓天HT-HAS-150以非飽和高壓環(huán)境為核心,滿足IC封裝等高精度測試需求,結(jié)合軍工級安全設(shè)計,為電子行業(yè)提供高效可靠的老化驗證方案?。


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